【使用PCT高压加速老化试验箱】
PCT系列不饱和高压加速老化箱适用于检测国防、航空航天、汽车零部件、电子零部件、塑料、磁体工业、制药、电路板、多层电路板、ic、LCD、磁体、照明、照明产品等产品的密封性能。，并对相关产品进行加速寿命测试，用于产品的设计阶段，快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其产品的耐厌氧性和气密性。测试半导体封装的防潮能力。待测产品在恶劣的温度、湿度和压力下测试时，水分会沿着胶体或胶体与引线框的界面渗入封装内。常见的故障模式是有源金属化区域腐蚀导致的开路，或封装引脚之间污染导致的短路。加速老化寿命试验的目的是增加环境应力(如温度)和工作应力(施加在产品上的电压和负载等)。)，加快测试过程，缩短产品或系统的寿命测试时间。

GB/T 2423.40-2013环境试验第2部分:试验方法试验Cx:不饱和高压蒸汽恒定湿热。



[产品特性]
1.进口耐高温电磁阀采用双向结构，降了使用故障率；
2.分开蒸汽发生室，避免蒸汽直接冲击产品，避免产品局部损坏；
3.这种省力的门锁结构，解决了替代产品的圆盘把手难以锁紧的缺点。
4.测试前方冷空气；试验中冷空气排放的设计(试验桶中的空气排放)提高了压力稳定性和再现性；
5.超长期实验运行时间，用长期实验机运行1000小时；
6.水位保护，由测试室内的传感器检测；
7 .罐体耐压设计，罐体(140℃)耐压为2.65 kg，满足6 kg的水压试验；
8.两级压力安全保护装置采用两级组合控制器和机械压力保护装置；
9.安全保护泄压按钮，应急安全装置两级自动泄压按钮；
10.全触控控制器，支持u盘导出历史记录。