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PCT高温高压老化试验箱评估水蒸气 点击返回
PCT高温高压老化试验箱评估水蒸气

信息来源于:互联网 发布于:2021-12-02

PCT高温高压老化试验箱磁性材料高温高压试验箱测试说明:

用于评估非气密包装装置在水蒸气冷凝或饱和水蒸气环境中抵抗水蒸气的完整性。样品在高压下处于冷凝和高湿度的环境中,使得水蒸气可以进入封装,暴露封装中的薄弱点,如分层和金属化腐蚀。该测试用于评估新包装结构或包装中材料和设计的更新。需要注意的是,本次测试中会出现一些与实际应用不一致的内部或外部失效机制。由于吸收的水蒸气会降大多数高分子材料的玻璃化转变温度,当温度高于玻璃化转变温度时,可能会出现不真实的失效模式。

外部引线锡短路:封装外部引线因潮湿产生的电离效应,会引起离子迁移异常增长,导致引线间短路。湿气引起的封装内部腐蚀:封装过程中湿气引起的裂纹给芯片表面带来外部离子污染,经过保护层针孔、裂纹、缺陷涂层等表面缺陷后。,它进入半导体原件,造成腐蚀和漏电流等。如果施加偏置电压,则容易发生故障。

PCT高温高压老化试验箱磁性材料高温高压试验箱产品技术参数:
控制方式:微机控制
内箱尺寸:(mm) φ 240× D440

PCT高温高压老化试验箱评估水蒸气

时间控制:发光二极管显示
加压时间:约45分钟内0.00 kg ~ 1.04 kgcm2
压力范围:0 ~ 2.5kg/cm2;(内桶设计耐压为3.5公斤/平方厘米)
压力波动:0.02公斤
试验条件:温度121℃,饱和蒸汽压1.04千帕2,
纵向上,祖ˇ终的维度都以实物为准。
时间范围:000小时~ 999小时

PCT高温高压老化试验箱磁性材料高温高压试验箱符合标准:
1、IEC60068-2-66
2、JESD22-A102-B
3、EIAJED4701
4、环评/JESD22
5、GB/T2423、40-1997
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