PCT高压加速老化试验箱的使用

PCT高压加速老化试验设备适用于国防、航空航天、汽车零部件、电子零配件、塑料、磁体工业、制药、电路板、多层电路板、ic、LCD、磁体、照明、照明产品等产品的密封性能测试。对相关产品进行加速寿命测试，用于产品设计阶段，快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其产品的疲劳和气密性。为了测试半导体封装的防潮能力，要测试的产品在恶劣的温度、湿度和压力下进行测试，湿气会沿着胶体或胶体与引线框架之间的界面渗入封装中。常见的故障模式有有源金属化区域腐蚀引起的开路，或污染引起的封装引脚间短路等。加速寿命试验的目的是改善环境应力(如温度)和工作应力(施加在产品上的电压和负载等)。)，加快测试过程，缩短产品或系统的寿命测试时间。

“产品特性”
1.采用进口耐高温电磁阀双向结构，降了使用故障率；
2.独立的蒸汽发生室，避免蒸汽对产品的直接冲击，从而避免产品的局部损坏；
3.省力门锁结构，解决了替代产品的圆盘式手柄锁紧困难的缺点。
4.测试前排冷空气；中间排气冷空气(测试桶内排气)的设计提高了压力稳定性和再现性；
5.超长期实验运行时间，用实验机长时间运行1000小时；
6.水位保护，由测试室内的水位传感器检测和保护；
7 .罐体耐压设计，箱体(140℃)耐压2.65 kg，满足6 kg水压试验；
8.两级压力安全保护装置采用两级组合控制器和机械压力保护装置；
9.安全保护泄压按钮，应急安全装置两级自动泄压按钮；
10.全触控控制器，支持u盘导出历史。